有了MDPingot和MDPmap系列，就可以全自动地测量砖块和硅片中的铁浓度，而且分辨率非常高。铁硼对解离前后的寿命测量是一种**使用的测定硅片中铁的方法。在高掺杂浓度的掺硼硅中，因为它被用于光伏应用，几乎100%的电活性铁以FeB对的形式存在。在有足够能量的光照下，这些铁对可以在Fe和B中解离。这个过程是可逆的，在一段时间后，所有的FeB对都会再次结合。FeB和Fei有不同的重组特性，因此解离对测量的寿命有影响。在这种影响下，铁的浓度可以通过以下方式确定：对于铁的测定，使...

太阳能电池分类：图一：带EVA箔和玻璃的太阳能电池放置在PIDcon中电位诱导衰减（PID）是光伏电站的一个严重的可靠性问题。因此，调查其产品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生产商能够在太阳能电池的生产链中尽可能快地测试他们的产品，并调查封装材料。因此，太阳能电池及其SiNx层的影响可以立于EVA和玻璃的影响进行研究。请注意，这里考虑的PID是太阳能电池由于高电压应力引起的漏电电流（PID-s）而产生的分流。为了对太阳能电池进行分类，使用敏感的EVA和玻璃是很...

EVA评估不同的EVA薄膜与来自同一批次和同一玻璃的太阳能电池的比较PIDcon的测量设置PIDcon可以通过使用一个模拟模块的样品堆来调查EVA箔对PID敏感性的影响。用户只需将太阳能电池、需要调查的EVA箔和玻璃放在上面。当然，必须使用同一批次的太阳能电池和同一玻璃进行比较。在图1所示的例子中，两种EVA薄膜的PID敏感度有明显的差异。EVA1比EVA2更适合用于模块。

根据IEC62804标准PIDcon的测量设置PIDcon测量的典型结果电势诱导退化（PID）是光伏电站的一个严重的可靠性问题。因此，调查其产品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生产商能够在生产链中尽早地测试他们的产品，并调查封装材料。PIDcon允许对标准生产单元进行常规质量控制，测试新工艺、材料或层的变化，并对各种模块步骤进行鉴定。请注意，这里考虑的PID是由于高电压应力引起的漏电电流（PID-s）导致的太阳能电池的分流。PIDcon的结构实际上与IEC标准...

论文来源：K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleａndirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要：双面PERC电池背面PID会导致严重的功率损失。与单面PERC太阳能电池相比，可以发生可逆的去极化相关电位诱导衰退（PID-p）和不可逆的腐蚀电位诱导衰退（PID-c）。研究表明，一个可靠的评估太阳能电池功率损失的方法需要一种改进的PID测试方法，需要在高压测试上附加光照。此外，还需要在测试方案中...

衍射数据库卡片又称为晶体结构卡片或者晶胞卡片，是一种用于描述晶体结构信息的标准化格式。这些卡片通常包含着晶体学家在分析晶体时所得到的重要数据，例如晶格参数、空间群、原子坐标等等。衍射卡片可以作为研究晶体结构的基础，也可以作为共享晶体结构信息的重要途径。衍射数据库卡片最初由国际晶体学联合会(IUCr)于1965年提出，并于1985年进行了更新。目前有多个常用的衍射卡片标准，包括CIF(CrystallographicInformationFile)、PDB(ProteinDat...

X射线三维显微镜(X-ray3Dmicroscopy)是一种可以在纳米尺度下对样品进行成像的技术。它能够提供高分辨率的三维结构信息，能够在材料科学、生物医学、纳米技术等领域发挥重要作用。X射线三维显微镜的工作原理基于X射线的特性。当X射线射入样品时，样品中的物质会吸收、散射或反射部分光子。通过探测器记录这些光子，就可以推断出样品的三维结构。与传统的两维投影成像不同，三维显微镜可以获取大量的数据，并使用计算机算法将这些数据转换为三维图像。这种技术通常需要使用X射线聚焦光束，以获...

晶圆片晶锭寿命检测仪是一种重要的设备，用于测试半导体器件的质量和寿命。它是半导体工业中不可缺少的关键设备之一。晶锭寿命检测仪采用高精度测量技术，能够检测和分析晶圆片和晶锭的性能、品质和寿命。在半导体工业中，晶圆片和晶锭是制造芯片的主要原材料，所以其质量和寿命非常重要。晶锭寿命检测仪可以通过对晶圆片和晶锭进行测试，评估其质量是否达标，并选择适合的材料进行生产。晶圆片晶锭寿命检测仪主要由测试器、控制系统和软件组成。测试器是检测仪的核心部分，它可以对晶圆片和晶锭的性能和寿命进行精准...